絕緣子介電常數(shù)測試儀-介質(zhì)損耗因數(shù)

參數(shù)：

工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數(shù)顯，壓控振蕩器

Q值測量范圍：1～1000三位數(shù)顯，±1Q分辨率

可調(diào)電容范圍：40～500 pF ΔC±3pF

電容測量誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

tanδ和ε測量精度（1MHz）：tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

tanδ和ε測量范圍：tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

anδ和ε性能：固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。

絕緣子介電常數(shù)測試儀-介質(zhì)損耗因數(shù)

特點：

◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術(shù)，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

裝置：

2.3.1 平板電容器極片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4

液體介電常數(shù)測定儀 低頻介電常數(shù)測試儀高頻介電常數(shù)測試儀 、塑料介電常數(shù)測試儀、聚乙烯介電常數(shù)測定儀、硅橡膠介電常數(shù)測定儀、橡膠介電常數(shù)測定儀、材料介電常數(shù)測定儀、薄膜介電常數(shù)測定儀、聚酯薄膜介電常數(shù)測試儀、聚合物介電常數(shù)測量儀、介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

介電常數(shù)的簡介：

介電常數(shù)測量技術(shù)在民用，工業(yè)以及軍事等各個領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。本文主要對介電常數(shù)測量的常用方法進行了綜合論述。首先對國家標準進行了對比總結(jié)；然后分別論述了幾種常用測量方法的基本原理、適用范圍、優(yōu)缺點及發(fā)展近況；后對幾種測量方法進行了對比總結(jié)，得出結(jié)論。介電常數(shù)是物體的重要物理性質(zhì)，對介電常數(shù)的研究有重要的理論和應(yīng)用意義。電氣工程中的電介質(zhì)問題、電磁兼容問題、生物醫(yī)學、微波、電子技術(shù)食品加工和地質(zhì)勘探中，無一不利用到物質(zhì)的電磁特性，對介電常數(shù)的測量提出了要求。目前對介電常數(shù)測量方法的應(yīng)用可以說是遍及民用、工業(yè)、國防的各個領(lǐng)域在食品加工行業(yè)當中，儲藏、加工、滅菌、分級及質(zhì)檢等方面都廣泛采用了介電常數(shù)的測量技術(shù)。例如，通過測量介電常數(shù)的大小，新鮮果蔬品質(zhì)、含水率、發(fā)酵和干燥過程中的一些指標都得到間接體現(xiàn)，此外，根據(jù)食品的介電常數(shù)、含水率確定殺菌時間和功率密度等工藝參數(shù)也是重要的應(yīng)用之一[1]。在路基壓實質(zhì)量檢測和評價中，如果利用常規(guī)的方法，盡管測量結(jié)果比較準確，但工作量大、周期長、速度慢且對路面造成破壞。由于土體的含水量、溫度及密度都會對其介電特性產(chǎn)生不同程度的影響，因此可以采用雷達對整個區(qū)域進行測試以反算出介電常數(shù)的數(shù)值，通過分析介電性得到路基的密度及壓實度等參數(shù)，達到快速測量路基的密度及壓實度的目的[2]。此外，復介電常數(shù)測量技術(shù)還在水土污染的監(jiān)測中得到了應(yīng)用[3]。并且還可通過對巖石介電常數(shù)的測量對地震進行預報[4]。上面說的是介電常數(shù)測量在民用方面的部分應(yīng)用，其在工業(yè)上也有重要的應(yīng)用。典型的例子有低介電常數(shù)材料在超大規(guī)模集成電路工藝中的應(yīng)用以及高介電常數(shù)材料在半導體儲存器件中的應(yīng)用。在集成電路工藝中，隨著晶體管密度的不斷增加和線寬的不斷減小，互聯(lián)中電容和電阻的寄生效應(yīng)不斷增大，傳統(tǒng)的絕緣材料二氧化硅被低介電常數(shù)材料所代替是必然的。目前Applied Materials 的BlackDiamond 作為低介電常數(shù)材料，已經(jīng)應(yīng)用于集成電路的商業(yè)化生產(chǎn)[5]。在半導體儲存器件中，利用高介電常數(shù)材料能夠解決半導體器件尺寸縮小而導致的柵氧層厚度極限的問題，同時具備特殊的物理特性，可以實現(xiàn)具有特殊性能的新器件[6]。在軍事方面，介電常數(shù)測量技術(shù)也廣泛應(yīng)用于雷達和各種特殊材料的制造與檢測當中。對介電常數(shù)測量技術(shù)的應(yīng)用可以說是不勝枚舉。介電常數(shù)的測量技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于民用、工業(yè)和國防各個領(lǐng)域，并且有發(fā)展的空間和必要性。我們對測量介電常數(shù)的方法進行總結(jié)，能更清晰的認識測量方法的現(xiàn)狀，為某些應(yīng)用提供一種可能適合的方法，是有一定理論和工程應(yīng)用意義的。.介電常數(shù)測量方法綜述介電常數(shù)的測量按材質(zhì)分類可以分為對固體、液體、氣體以及粉末(顆粒)的測量[7]。固體電介質(zhì)在測量時應(yīng)用較為廣泛，通?？梢苑譃閷潭ㄐ螤畲笮〉墓腆w和對形狀不確定的固體的測量。相對于固體，液體和氣體的測試方法較少。對于液體，可以采用波導反射法測量其介電常數(shù)，誤差在5%左右[8]。此外國家標準中給出了在90℃、工頻條件下測量液體損耗角正切及介電常數(shù)的方法[9]。對于氣體，具體測試方法少且精度都不十分高。文獻[10]中給出一種測量方法，以測量共振頻率為基礎(chǔ)，在LC 串聯(lián)諧振電路中產(chǎn)生震蕩，利用數(shù)字頻率計測量諧振頻率，不斷改變壓強和記錄當前壓強下諧振頻率，后用作圖或者一元線性回歸法處理數(shù)據(jù)，得到電容變化率進而計算出相對介電常數(shù)。表1 是測量固體介電常數(shù)的國家標準方法(不包括廢止的方法)及其對頻率、介電常數(shù)范圍、材料等情況的要求。如表1 所示，國家標準中已經(jīng)對微擾法和開式腔法的過程做了詳細介紹，然而對適用頻率和介電常數(shù)的范圍都有所限制。所以在不同材料，不同頻率的情況下，國家標準也給出了相應(yīng)的具體測量方法?？梢姡厦嫠治龅姆椒ú⒉皇强梢噪S便套用的。在不同的系統(tǒng)、測量不同的材料、所要求的頻率不同的情況下，需要對其具體問題具體分析，這樣才能得出準確的方法。國家標準測量方法覆蓋的頻率為50 MHz 以下和100 MHz 到30 GHz，可以說是一個較廣的頻率覆蓋范圍，但是不同范圍適用的材料和環(huán)境等都有所不同。介電常數(shù)的覆蓋范圍是2 到100，接近1 的介電常數(shù)和較高介電常數(shù)的測量方法比較稀缺，損耗普遍在10−3 到10−4 的數(shù)量級上。3. 測量介電常數(shù)的幾種主要方法從總體來說，目前測量介電常數(shù)的方法主要有集中電路法、傳輸線法、諧振法、自由空間波法等等。其中，傳輸線法、集中電路法、諧振法等屬于實驗室測量方法，測量通常是在實驗室中進行，要求具有相應(yīng)的樣品采集技術(shù)。另外對于已知介電常數(shù)材料發(fā)泡后的介電常數(shù)通常用經(jīng)驗公式得到[26]。下面，分別對這幾種方法的原理、特點和發(fā)展現(xiàn)狀等做分別闡述。3.1. 集中電路法集中電路法是一種在低頻段將有耗材料填充電容，利用電容各參數(shù)以及測量得到的導納推出介電常數(shù)的一種方法。其原理公式為：

其中， Y 為導納， A 為電容面積， d 為極板間距離，e0 為空氣介電常數(shù)，ω 為角頻率。為了測量導納，通常用并聯(lián)諧振回路測出Q 值(品質(zhì)因數(shù))和頻率，進而推出介電常數(shù)。由于其頻率會受到小電感的限制，這種方法的高頻率一般是100 MHz。小電感一般為10 nHz 左右。如果電感過，高頻段雜散電容影響太大。如果頻率過高，則會形成駐波，改變諧振頻率同時輻射損耗驟然增加。但這種方法并不適用于低損材料。因為這種方法能測得的Q 值只有200 左右，使用網(wǎng)絡(luò)分析儀測得tand 也只在10−4 左右。這種方法不但準確度不高，而且只能測量較低頻率，在現(xiàn)有通信應(yīng)用要求下已不應(yīng)用

自由空間法
自由空間法其實也可算是傳輸線法。它的原理可參考線路傳輸法，通過測得傳輸和反射系數(shù)，改變樣
品數(shù)據(jù)和頻率來得到介電常數(shù)的數(shù)值。圖2 為其示意圖。

自由空間法與傳輸線法有所不同。傳輸線法要求波導壁和被測材料*接觸，而自由空間法克服了這
個缺點[38]。自由空間法保存了線路傳輸法可以測量寬頻帶范圍的優(yōu)點。自由空間法要求材料要有足夠的損耗，否則會在材料中形成駐波并且引起誤差。因此，這種方法只適用于高于3 GHz 的高頻情況。其頻率可以達到100 GHz。

六端口測量技術(shù)
另外，還有一種方法為六端口測量技術(shù)。其測量系統(tǒng)如圖3。在未填充介質(zhì)樣品時，忽略波導損耗，短路段反

其它產(chǎn)品介紹：

1、用途

啞鈴型制樣機可以制取下列試樣：

1.1 GB/T 1040-92“塑料拉伸性能試驗方法”中規(guī)定的Ⅰ、Ⅱ型啞鈴型試樣。

    1.2 GB 8802-88“硬聚氯乙烯（PVC-U）管材及管件維卡軟化溫度測定方法”及GB 1633-79“熱塑性塑料軟化點（維卡）試驗方法”中規(guī)定的厚度>6mm的維卡試樣。

    1.3 試樣總長≤250mm,寬20～50mm,厚≤10mm的長條試樣。

    1.4 用戶要求的其它形狀的試樣。

2、使用方法

    2.1 制取試樣毛坯，其尺寸為：

    Ⅰ型試樣：總長150±1.0，寬≥22

    Ⅱ型試樣：總長115±1.0，寬≥27

    Ⅰ、Ⅱ型及長條試樣毛坯直接裝入相應(yīng)夾具內(nèi)夾緊，夾緊力不可過大，避免夾具體變形，只要能將試樣毛坯夾住即可，另外各面應(yīng)盡量對稱，以使加工量均勻。

維卡試樣毛坯按下述方法裝卡：

    當管材壁厚>6mm，≤8mm時，按圖一所示裝卡部位夾緊。

    當管材壁厚>8mm時，按圖二所示裝卡部位夾緊，此時試樣伸出夾具的量H應(yīng)小于5mm，一次裝卡加工完后，松開夾具將試樣按箭頭方向推出<5mm的一段，夾緊后再繼續(xù)加工，直到壁厚<8mm時再按圖一所示裝卡部位夾緊后進行后一次加工。

按上述方法制取的試樣壁厚為4mm.

    2.3、 試樣的加工

    2.3.1 接通電源，轉(zhuǎn)動電源開關(guān)，使刀具軸轉(zhuǎn)起來，從頂部向下觀察時刀具軸應(yīng)逆時針轉(zhuǎn)動。同時觀察刀具安裝是否正確，即刀刃的方向應(yīng)與回轉(zhuǎn)方向相*。

    2.3.2 Ⅰ、Ⅱ型試樣的加工是將裝好試樣毛坯的夾具向刀具方向靠近，以手工送進方式進行加工，并注意夾具要與刀具上、下的定位軸承外圓貼緊。一面加工完后，將夾具轉(zhuǎn)180°再加工另一面，即可完成加工。

    2.3.3 維卡試樣的加工與上述相似，只是加工中夾具不需轉(zhuǎn)180°，只在一面加工即可完成。

    2.3.4 長條試樣的加工，首先松開緊固螺釘，左右移動定位板的位置，根據(jù)被加工試樣的寬度，調(diào)整尺寸L值

    L=1/2試樣寬度+9

    尺寸L調(diào)整好后，將定位板緊固，即可進行加工，加工中夾具要與定位板緊密貼緊送進夾具進行加工，一面加工好后，將夾具轉(zhuǎn)180°再加工另一面即可完成制備工作。如加工短試樣時，為避免夾具變形，可多個試樣同時加工或在夾緊后的空余處加一同樣厚度的片與試樣一起夾緊。

3、注意事項

    3.1試樣加工中要采用逆銑方式，即夾具移動方向要與刀具回轉(zhuǎn)的線速度方向相反.

3.2 試樣加工量大的部位要分幾次加工，夾具一次移動中的加工量不可過大。

3.3 加工中夾具的移動速度盡量保持均勻，且不可太快。

    3.4 加工中要注意安全，人手要盡量遠離刀具，更不可相接觸。

    3.5 加工中需要一不小于1KW的吸塵器將切屑吸除（用管形吸頭）吸頭用臺面上的卡子壓住，吸口對著出屑的切線方向。

1. 維護保養(yǎng)

1. 機器不使用時要擦干凈，并注意防塵。

     4.2 機器每半年應(yīng)對面板下部的軸承用10#機油潤滑一次，可在面板與主軸的間隙處注油即可。

5、機器外形尺寸

長×寬×高=405mm×280mm×390mm