介電常數(shù)介質損耗測試儀

BDAT-B型高壓電容電橋
主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路。
主要可以測量電容器，互感器，變壓器，各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質損耗( tg)和電容量( Cx)以，其測量線路采用“正接法”即測量對地絕緣的試品。
 

電容率和介質損耗因數(shù)測試儀特點：
◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值讀取技術，使測Q分辨率至0.1Q。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～70MHz,測試信號。
◎ 低至20nH殘余電感，保證高頻時直讀Q值的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ 數(shù)字化Q值預置，能提高批量測試的可靠性和速度。

GDAT-a

直接測量范圍
1～460pF
主電容調節(jié)范圍
準確度
30～500pF
150pF以下±1.5pF；
150pF以上±1％
注：大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則

介電常數(shù)介質損耗試驗儀信號源頻率覆蓋范圍
項     目
GDAT-A
頻率范圍
10kHz～50MHz
頻率分段
(虛擬)
10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz
10～60MHz     
頻率指示誤差
3×10-5±1個字
Q合格指示預置功能
預置范圍：5～1000。
Q表正常工作條件
環(huán)境溫度：0℃～+40℃；                     
相對濕度：<80％； 

電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
其他
消耗功率：約25W； 

凈重：約7kg；  
外型尺寸：(l×b×h)mm：380×132×280。

電容率和介質損耗因數(shù)測試儀產(chǎn)品配置：
測試主機一臺；
電感9只；
夾具一套   
電感：
 
線圈號    測試頻率    Q值    分布電容p       電感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH
             
  1   25MHz，50MHz   233，211    0.9       0.125μH

介電常數(shù)介質損耗測試儀術指標
Q值測量
Q值測量范圍：2～1023。
Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。

 BH916介電常數(shù)介質損耗測試儀裝置與C類Q表及電感器配用，能對絕緣材料進行高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

介電常數(shù)介質損耗測試儀使用方法

高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器，為了提高測量精度，除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小，使耦合回路的頻響盡可能地好之外，還要掌握正確的測試方法和殘余參數(shù)修正方法。

介電常數(shù)介質損耗測試儀測試注意事項

a．本儀器應水平安放；

b．如果你需要較精確地測量，請接通電源后，預熱30分鐘；

c．調節(jié)主調電容或主調電容數(shù)碼開關時，當接近諧振點時請緩調；

d．被測件和測試電路接線柱間的接線應盡量短，足夠粗，并應接觸良好、可靠，以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差；

e．被測件不要直接擱在面板頂部，離頂部一公分以上，必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊；

f．手不得靠近試件，以免人體感應影響造成測量誤差，有屏蔽的試件，屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱。

2．高頻線圈的Q值測量（基本測量法）